Capable de détecter un large éventail de défauts, en adoptant une technologie avancée de vision industrielle pour assurer un contrôle de qualité approfondi.
Notre série d'équipement de semi-conducteur comprend principalement divers équipements automatiques d'inspection de défaut, qui sont capables d'inspecter rapidement de grands volumes de substrats en céramique. Utilise une technologie avancée de vision industrielle, même les plus petits défauts qui pourraient manquer à l'œil humain peuvent être capturés. Et il fournit des critères d'inspection uniformes, éliminant la variabilité associée aux inspections manuelles. La tomographie acoustique à balayage identifie les défauts des puces avant leur emballage, garantissant que seules les puces de haute qualité passent à l'étape suivante. L'équipement d'imagerie directe garantit une imagerie précise pour des applications telles que la production de cadres de sérigraphie, où les modèles exacts sont cruciaux. Pendant ce temps, il accélère largement le processus d'imagerie, permettant des cycles de production plus rapides.